Громадське обговорення ОП «Інформаційні вимірювальні технології» 2-го магістерського рівня

В ході громадського обговорення ОП «Інформаційні вимірювальні технології» 2-го магістерського рівня надійшли відгуки від провідних організацій та фахівців у галузі метрології та інформаційно-вимірювальної техніки.

Громадське обговорення ОП «Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка» третього (освітньо-наукового) рівня вищої освіти

В ході громадського обговорення ОП «Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка» третього (освітньо-наукового) рівня вищої освіти надійшли відгуки від провідних організацій та фахівців у галузі метрології та інформаційно-вимірювальної техніки.

Магістерська дисертація. Організація, вимоги до структури, змісту та оформлення

Магістерська дисертація. Організація, вимоги до структури, змісту та оформлення [Електронний ресурс] : навч. посіб. для здобув. спеціальності 152 «Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка», освітньої програми «Інформаційні вимірювальні технології», сертифікатної програми «Інформаційні технології екологічної безпеки» / КПІ ім. Ігоря Сікорського ; уклад.: Защепкіна Наталія Миколаївна, Здоренко Валерій Георгійович. – Електронні текстові данні (1 файл: 501.5 Кбайт). – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. – 52 с. – Назва з екрана.

Проєкти освітніх програм – магістр

Громадське обговорення проєкту ОП магістра “Інформаційні вимірювальні технології”

Проєкти освітніх програм – PhD (доктор філософії)

Громадське обговорення проєкту ОП PhD (доктора філософії) «Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка»

Календарний контроль осіннього семестру 2022/2023 н.р.

Календарний контроль в осінньому семестрі буде проведено для усіх курсів протягом: перший календарний контроль з 17.10.2022 по 29.10.2022; другий календарний контроль з 05.12.2022 по 17.12.2022.

Практика: організація, підготовка, проведення

Практика: організація, підготовка, проведення [Електронний ресурс] : навчальний посібник для здобувачів ступеня магістр за освітньою програмою «Інформаційні вимірювальні технології» спеціальності 152 «Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка» / КПІ ім. Ігоря Сікорського ; уклад.: Г. А. Богдан, О. М. Маркіна, Н. М. Защепкіна. – Електронні текстові дані (1 файл: 0,37 Мбайт). – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2022. – 45 с. – Назва з екрана.